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SEM
掃描電子顯微鏡是一種眾所周知的無損分析技術(shù)，它使用電子束分析樣品表面，分析尺度可至納米級。掃描電子顯微鏡可獲得高分辨的高倍圖像，廣泛應(yīng)用于各個科學(xué)和工業(yè)領(lǐng)域。

TESCAN 提供場發(fā)射掃描電子顯微鏡 ( FE-SEM ) ，配備高亮度肖特基場發(fā)射燈絲，可以獲得高分辨率和低噪聲成像效果。其中，TESCAN MIRA 系列是高分辨率的場發(fā)射掃描電鏡。此外，TESCAN 最新推出了 TESCAN CLARA 和 TESCAN MAGNA 系列產(chǎn)品。TESCAN CLARA 采用新型BrightBeam™ 電子鏡筒技術(shù)，實現(xiàn)了無磁場超高分辨成像，可以實現(xiàn)各種分析，包括磁性樣品的分析。TESCAN MAGNA 配置Triglav™ 型超高分辨率電子鏡筒，同時使用了全新的電子光學(xué)系統(tǒng)和探測器系統(tǒng)，能夠提供良好的表面靈敏度和襯度圖像，實現(xiàn)對電子束高敏材料或不導(dǎo)電材料納米特征的觀察。

產(chǎn)品型號（點擊型號鏈接可查看詳細介紹）：

TESCAN MIRA
TESCAN CLARA
TESCAN MAGNA

適用領(lǐng)域

半導(dǎo)體和微電子：球柵陣列、硅通孔、引線焊接、微機電系統(tǒng)
材料科學(xué)：鋼鐵及合金、陶瓷及硬質(zhì)涂層、玻璃、聚合物及復(fù)合材料、土木工程和建筑材料、木材，紡織品及紙張
生命科學(xué)：生物醫(yī)學(xué)工程、細胞&組織形態(tài)學(xué)、微生物學(xué)、制藥技術(shù)、植物和動物科學(xué)、亞細胞分析、環(huán)境和食品科學(xué)
地球科學(xué)：巖石學(xué) & 礦物學(xué)、古生物學(xué)、礦物加工、廢物回收、